| 专利名称: | 一种基于传导冷却的超导线性能测量装置 |
| 专利类别: | 发明 |
| 申请号: | |
| 申请日期: | 2020.03.26 |
| 专利号: | 202010222968.4 |
| 第一发明人: | 孙万硕 王秋良 程军胜 戴银明 胡新宁 陈顺中 王晖 刘建华 |
| 其它发明人: | |
| 国外申请日期: | |
| 国外申请方式: | |
| 专利授权日期: | |
| 缴费情况: | |
| 实施情况: | |
| 专利证书号: | |
| 专利摘要: | |
| 其它备注: | |
一种基于传导冷却的超导线性能测量装置
| 专利名称: | 一种基于传导冷却的超导线性能测量装置 |
| 专利类别: | 发明 |
| 申请号: | |
| 申请日期: | 2020.03.26 |
| 专利号: | 202010222968.4 |
| 第一发明人: | 孙万硕 王秋良 程军胜 戴银明 胡新宁 陈顺中 王晖 刘建华 |
| 其它发明人: | |
| 国外申请日期: | |
| 国外申请方式: | |
| 专利授权日期: | |
| 缴费情况: | |
| 实施情况: | |
| 专利证书号: | |
| 专利摘要: | |
| 其它备注: | |